纳米标准技术的发展过程中，由于纳米检测和表征技术的不足，因而制约着纳米材料的开发和产业的进程。我国目前在纳米评价方面的研究仍属薄弱，这当中最主要的问题是缺少纳米标准材料，比对实验所用的标准颗粒样品均需依赖国外进口。当前，国内在纳米颗粒的制备、纳米材料的研发及应用方面，在各个领域展开了工作，但标准颗粒制备技术的不够完备，致使这方面的评价工作难于精确地进行。华东理工大学日前开发成功的纳米标准制备颗粒技术，现已申请了专利。该项技术对制备纳米标准颗粒的材料进行了筛选，并对其制备方法进行了选择和探索。经过参数化得到了粒径可控且分布窄的纳米颗粒，并通过简单的模型计算实现了纳米颗粒大小的真正可控，从而能够研制出颗粒不同的系列纳米颗粒样品。应用该技术对计算机制备所50nm、80nm的二氧化硅颗粒进行了测试，结果表明：所得各项指标均达到了进口颗粒相当的水平。华东理工大学、上海交通大学、上海计量测试研究院和上海材料研究所等单位联合组建的上海纳米材料测试中心，现已投入试运行。该中心的建立以及上述制备技术开发成功，可以给“纳米” 产品做出正确的评价。上海市科技主观部门现已规定，所有与纳米有关的研究项目都必须到这个中心进行评价，以确保纳米科研的正常进行。